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JIMA RT RC-04分辨率测试卡

产品简介

JIMA RT RC-04分辨率测试卡日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

产品型号:
更新时间:2024-10-14
访问量:200
详细介绍
品牌为尔康

JIMA RT RC-04分辨率测试卡,RT RC-04测试卡详细介绍:

JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

JIMA RT RC-04分辨率测试卡


测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm

芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm

图案布局:T

线/空间尺寸:32种规格图案,

0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,

0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,




JIMA RT RC-04分辨率测试卡









JIMA RT CT-01分辨率测试卡(专用于三维CT系统分辨率测试)

测试卡封装在一个防护盒中

图案布局:T

线/空间尺寸:5种规格图案,

                      3μm,4μm,5μm,6μm,7μm




 JIMA RT RC-02分辨率测试卡

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm

芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm

图案布局:L

线/空间尺寸: 16种规格图案,

0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,

2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm






JIMA RT RC-05分辨率测试卡

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm

芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm

图案布局:T型 (3-10μm

I 型 (15-50μm

线/空间尺寸:16种规格图案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm T型)

15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I )

JIMA RT RC-04分辨率测试卡


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