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JIMA RT RC-02B分辨率测试卡

JIMA RT RC-02B分辨率测试卡(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

发布日期:2024-10-21

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RT CT-01分辨率测试卡

RT CT-01分辨率测试卡(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

发布日期:2024-10-21

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JIMA RT RC-04分辨率测试卡

JIMA RT RC-04分辨率测试卡日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

发布日期:2024-10-14

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Type 81高分辨测试卡

Type 81高分辨测试卡(X射线检测用线对卡)、二度星卡(2度星卡,焦斑卡)是医院、疾控中心、第三方检测单位用来检测 X射线机等透视成像设备的X射线的分辨率的装置。

发布日期:2024-10-14

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JIMA RT RC-05分辨率测试卡

JIMA RT RC-05分辨率测试卡 测试卡封装在一个防护盒中 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm 芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm 图案布局:T型 (3-10μm) I 型 (15-50μm) 线/空间尺寸:16种规格图案,

发布日期:2024-10-14

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